低溫黑體和大面源黑體

簡要描述：低溫黑體和大面源黑體產(chǎn)品尤其是黑體源大量的應(yīng)用于美國系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領(lǐng)域。

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廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2025-02-07
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品牌	其他品牌	產(chǎn)地	進口
加工定制	否

低溫黑體和大面源黑體美國SBIR紅外公司成立于1986年，經(jīng)過逾20年的發(fā)展，已經(jīng)成為國際上電光測試裝備的*，所研發(fā)產(chǎn)品尤其是黑體源大量的應(yīng)用于美國紅外系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領(lǐng)域。其產(chǎn)品性能主要如下：

腔式黑體

低溫黑體

大面源黑體

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